扫描电子显微镜
用电子探针对样品扫描使其成像的电子显微镜
创建同名条目
条目
历史版本
编辑
扫描
电子显微镜
(Scanning Electron
Microscope
,
SEM
)是用
电子
探针
对样品表面扫描使其成像的电子显微镜
[1]
。SEM的成像原理和
光学显微镜
、
透射电子显微镜
不同,它是以电子束作为照明源,把聚焦得很细的电子束以
光栅
状扫描方式照射到试样表面,通过电子与试样表面相互作用产生的
二次电子
、背散射电子等加以收集和处理从而获得
微观
形貌放大像
[4]
。
扫描电子显微镜一般包括
电子枪
、电磁
透镜
、扫描系统、信号采集和处理装置
[2]
。其主要作用是用于观察物质表面形貌,不仅可用于
生命科学
、
材料科学
、
化学
、物理学、
电子学
、
地质学
、食品科学等领域的研究;而且还广泛应用于半导体工业、陶瓷工业、
化学工业
等生产部门
[2]
。
目前,使用最广的常规
钨丝
阴极
扫描电子显微镜其
分辨率
最大可达3~5nm,加速电压为0.2~30kV
[5]
。
发展简史
1924年,
法国
科学家DeBroglie证明任何粒子在高速运动时都会发射一定波长的
电磁辐射
,期辐射波长与粒子质量和运动速度成反比。这种随加速电压改变的电子波长叫德布罗利波,1926年
德国
科学家Garbor和Busch发现铁壳封闭的铜线圈对电子流能折射聚焦,这可以作为电子束
透镜
。这两项重要发现为
电子显微镜
的研制提供了理论基础
[6]
。