ate

集成电路自动测试机
ATE指的是自动测试设备(Automatic Test Equipment),它是一种用于测试集成电路(IC)的设备,具有自动化、精准性、高速性、灵活性、可重复性、多功能性和数据处理能力等特点。ATE的作用是对集成电路芯片、电子设备和系统进行测试和验证,以确保它们的性能、功能、可靠性和稳定性符合设计要求,提高生产效率和企业的竞争力。[1]
ATE的基本原理是使用各种测试仪器和测试程序对集成电路进行自动化测试。ATE系统由测试仪器、测试程序和控制系统组成。测试仪器包括数字信号发生器、模拟信号发生器、数字信号分析仪、模拟信号分析仪、逻辑分析仪频谱分析仪和电源等。测试程序是一组指令,用于控制ATE系统执行测试操作。控制系统负责整个ATE系统的控制和管理。[1]
ATE系统使用各种信号和电压来模拟集成电路的工作环境,并检测IC是否满足规格要求。ATE可以进行各种测试,如功能测试、时间延迟测试、电气特性测试、温度测试、可靠性测试等。ATE还可以进行快速测试,提高测试效率和降低测试成本。[1]

简介

在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面,存在着去伪存真的需要,这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程,就需要各种试验设备,这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。这里所说的电子元器件 DUT(Device Under Test),当然包括IC类别,此外,还包括分立的元件,器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节,具体的取决于工艺(Process)设计的要求。